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日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢FE-300光學(xué)膜厚量測儀$n日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測儀$n這是一款小型、低成本的膜厚計(jì)，采用高精度光學(xué)干涉法測量膜厚，操作簡單。$n我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲在主體內(nèi)，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。$n盡管價(jià)格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學(xué)常數(shù)。
OTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜HS-1000輻射計(jì)$nOTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜輻射計(jì)$n這是一款光譜輻射亮度計(jì)，可以從低亮度到高亮度進(jìn)行高速且高精度的測量。$n利用熱電冷卻線性陣列傳感器，大冢電子光譜光學(xué)設(shè)計(jì)和信號處理電路在寬亮度和波長范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了低噪聲、高精度測量。
現(xiàn)貨日本otsukae日本進(jìn)口多通道光譜儀$n多功能多通道光譜探測器，支持紫外到近紅外區(qū)域。頻譜測量僅需 5ms 即可完成。用作標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的光纖使其可以與各種測量系統(tǒng)一起使用，而無需樣品類型。除了顯微光譜、光源發(fā)射、透射/反射測量之外，與軟件結(jié)合，還可以進(jìn)行物體顏色評估、膜厚測量等。
大塚電子ELSZneoSE粒度測量系統(tǒng)陶瓷色料半導(dǎo)體領(lǐng)域 大塚電子粒度測量系統(tǒng)陶瓷色料半導(dǎo)體領(lǐng)域 特征 可根據(jù)應(yīng)用添加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變測量、凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測量）。 使用標(biāo)準(zhǔn)流通池連續(xù)測量粒徑和 zeta 電位 能夠測量從稀溶液到濃溶液 (~40%) 的各種濃度的顆粒尺寸和 zeta 電位 可以在高鹽濃度下測量扁平樣品的 Zeta 電位。 可在 0 至 90℃
現(xiàn)貨OTSUKA大塚電子界達(dá)電位粒徑ELSZneo分析儀 現(xiàn)貨OTSUKA大塚電子界達(dá)電位粒徑分析儀 [ELSZneo 將光散射物理性質(zhì)評估 推向新階段] 這 是 ELSZ 系列的頂級型號，除了測量稀溶液到濃溶液中的 Zeta 電位和粒徑之外，還能夠測量分子量。 作為一項(xiàng)新功能，我們采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可以進(jìn)行顆粒濃度測量、微觀流變測量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。 新型
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